产品名称：3225贴片晶振测试仪

3225贴片晶振测试仪

一． 概述

CX-118A型晶振测试仪是一款用来测试晶振频率、精度、漂移等指标的通用测试仪器。

仪器采用超高精度的有源温补晶振作为时间基准；高速ECL电路进行信号的整形、放大、计数 ;单片机进行系统管理及数据处理。仪器自身带有*常用的Pierce振荡电路，可以用来直接测试35MHZ以下的无源基频晶振（超过35M的基频晶振很少）、以及100MHZ以下的泛音晶振的基频频率。

二．功能及用途

CX-118A晶振测试仪可直接测量40MHz以下无源晶振的频率、以及100MHz以下泛音晶振的基频频率，可满足绝大部分晶振测量的需要。（绝大多数的基频晶振频率都<40MHz，泛音晶振多为3倍泛音，）。可直接测量插脚封装晶振，配备“贴片晶振测试座”也可测量贴片封装晶振；

该设备可以测量如下类型的参数：

1.频率

2.周期

3.频率偏差率

4.频率漂移率

5.漂移监测时间

三．主要技术指标

1. 频率测量范围：32.768KHz-100MHz

2. 周期测量范围：1ns-10s

3. 采样时间（T）：0.01s、0.1s、1s、10s可调

4. 频率分辨率(R.P.)：

T=0.01s 时R.P.=100HZ

T=0.1s 时R.P.=10HZ

T=1s 时R.P.=1HZ

T=10s 时R.P.=0.1HZ

5. 基准频率：10MHz

6. 基准精度：2ppm

7. 测量精度：2.5倍基准精度+1 R.P.

8. 外部输入信号幅度：50mv-10v

9. 环境温度：20±15℃

10. 电源：100-240v、50/60Hz

11. 功耗：<10W

 1.“参数选择”功能：

该功能用来选择显示的参数类型。按压“显示选择”键依次循环切换。发亮灯指示当前显示类型。

“漂移采样”按钮：用来启动漂移采样或者停止漂移采样。按钮上方指示灯亮时表示“漂移测量”处于工作状态。 启动漂移采样时、显示实时漂移率及漂移测量时间；停止漂移采样时、显示上次漂移率及漂移测量时间（如果测量时间=0、表示开机后为启动过漂移测量）

漂移测量原理：启动“漂移采样时，系统以当时的频率测量值作为基准，然后实时比较采样值，提取并保存*低频率和频率，计算相对于基准的偏差，选取大者作为漂移值。

注意：（1）测量“偏差”值时必须将晶振的“标称值”作为“标准值“输入系统（参见“标准   设置”说明）

（2） 此处“时间”指的是漂移测量时间

2.“采样时间”功能

该功能用来选择系统进行一次完整测量需要的时间。时间越短，测量速度越快，测量分辨率越低，相应的测量精度就越差。（见“主要技术指标—频率分辨率(R.P.)、及测量精度）。除非使用“外部测量”接口、测量很低频率的信号，选择10s外，通常选择1s或0.1s。

按压该功能键、循环切换采样时间。

3.“标准设置”功能

偏差测量（俗称ppm测量）是通过测量频率值，然后通过与标准频率值进行比较运算得到的。因此要准确的测量偏差、就必须正确输入标称值作为数据处理的标准值。

(1).“设置/测量”键：按压该键可使系统状态在“测量”状态和标准值“设置”状态间切换。当前状态由上方“测量”、“设置”灯指示。

(2)。“位调整”键：用来调整输入标准值时的数据位。“设置”状态灯亮时有效。按压该键从位到*低位循环。闪烁位为当前有效位。

(3).“数调整”键：用来改变闪烁位的值。按压该键、闪烁位的值从9-0循环改变。

(4).“设置使能”键：当确认各位数据输入无误后，按压该键，系统将以该值作为标准值计算“偏差”，并自动切换到“测量”状态。

4.“面板晶振测试”功能

仪器面板左边为通用、一体化的无源晶振测试及信号选择功能区

(1).测量信号选择：

①内部基准：选择内部时间基准信号作为测量信号源。可用来检查仪器是否工作正常。该机内部基准频率为10MHz，偏差为2ppm。