产品名称：32.768KHz晶振测试仪

32.768KHz晶振测试仪

一． 概述

CX-118A型晶振测试仪是一款用来测试晶振频率、精度、漂移等指标的通用测试仪器。

仪器采用超高精度的有源温补晶振作为时间基准；高速ECL电路进行信号的整形、放大、计数 ;单片机进行系统管理及数据处理。仪器自身带有*常用的Pierce振荡电路，可以用来直接测试40MHZ以下的无源基频晶振（超过40M的基频晶振很少）、以及100MHZ以下的泛音晶振的基频频率。

二．功能及用途

CX-118A型晶振测试仪可直接测量40MHz以下无源晶振的频率、以及100MHz以下泛音晶振的基频频率，可满足绝大部分晶振测量的需要。（绝大多数的基频晶振频率都<35MHz，泛音晶振多为3倍泛音，）。可直接测量插脚封装晶振，配备“贴片晶振测试座”也可测量贴片封装晶振；

配备不同规格的“贴片晶振测试座”后可以测量。

该设备可以测量如下类型的参数：

1.频率

2.周期

3.频率偏差率

4.频率漂移率

5.漂移监测时间

三．主要技术指标

1. 频率测量范围：32.768KHz-100MHz

2. 周期测量范围：1ns-10s

3. 采样时间（T）：0.01s、0.1s、1s、10s可调

4. 频率分辨率(R.P.)：

T=0.01s 时R.P.=100HZ

T=0.1s 时R.P.=10HZ

T=1s 时R.P.=1HZ

T=10s 时R.P.=0.1HZ

5. 基准频率：10MHz

6. 基准精度：2ppm

7. 测量精度：2.5倍基准精度+1 R.P.

8. 外部输入信号幅度：50mv-10v

9. 环境温度：20±15℃

10. 电源：100-240v、50/60Hz

11. 功耗：<10W