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产品详情

晶振测试仪,PPM测试仪,贴片晶振测试仪,插件式晶体测试仪

  • 如果您对该产品感兴趣的话,可以
  • 产品名称:晶振测试仪,PPM测试仪,贴片晶振测试仪,插件式晶体测试仪
  • 产品型号:CX-118A
  • 产品展商:创鑫
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简单介绍

晶振测试仪,PPM测试仪,贴片晶振测试仪,插件式晶体测试仪使用微处理器技术,实现了智能化测量。本系列仪器采用倒数计数技术实现等精度测量。它测量精度高,灵敏度高,速度快,闸门时间可选;具有频率测量、周期测量、PPM测量、分档测量、上下限测量、累加计数等功能;中心频率(标称频率)F0、分档值Pr1~Pr8(ppm) 、上限频率FU、下限频率FL可任意设定并能存储。该机前置电路有低通滤波器、衰减器等。特别适合晶体行业、邮电、通信、广播电视、学校、研究所及工矿企业的生产和科研之用。 深圳创鑫晶振测试仪,PPM测试仪,贴片晶振测试仪,插件式晶体测试仪

产品描述

CX-118A型晶振测试仪,PPM测试仪,贴片晶振测试仪,插件式晶体测试仪

1.概述

CX-118A型晶振测试仪使用微处理器技术,实现了智能化测量。本系列仪器采用倒数计数技术实现等精度测量。它测量精度高,灵敏度高,速度快,闸门时间可选;具有频率测量、周期测量、PPM测量、分档测量、上下限测量、累加计数等功能;中心频率(标称频率)F0、分档值Pr1~Pr8(ppm) 、上限频率FU、下限频率FL可任意设定并能存储。该机前置电路有低通滤波器、衰减器等。特别适合晶体行业、邮电、通信、广播电视、学校、研究所及工矿企业的生产和科研之用。

 

2.主要特征

2.1 本机采用倒数计数技术,测量精度高,测量范围宽,真正实现等精度测量,测量速度快,灵敏度高。

2.2 采用单片微机技术进行周期频率测量和智能化管理,使得仪器具有很高的可靠性和优良的性能/价格比。

2.3 整机采用大规模集成电路设计,CPLD器件的运用,使仪器元器件大为减少,可靠性有了很大的提高,平均无故障工作时间≥10000h。

  • 整机外型美观大方,体积小,重量轻,使用方便。

 

3.技术参数

 

3.1 测量范围

  • 频率测量:A通道:1Hz~100MHz;

B通道:100MHz~1.6GHz(选件)

  • 周期测量:A通道:10ns~1s

  • PPM测量:-9999~9999ppm

  • 上、下限测量:可根据用户所设定的上限参数FU、下限参数FL来测量被测频率是否超出上、下限,超限则报警。

  • 分档测量:根据用户所设定的中心频率F0自动进行分档测量。 分档值:Pr1~Pr8可在1~999ppm之间任意设置

分档档数:以中心频率F0为中点左右分成16档

  • 累加计数:计数容量:0~109-1 (选件)

计数方式:键控、门控或外门控可选。

3.2 输入特性

  • 输入阻抗: A通道: 1MΩ//40pF

B通道: 50Ω

3.2.2 输入耦合方式:AC

3.2.3 波形适应性:正弦波、脉冲波

  • 输入电压动态范围:

A通道:30mVrms~250Vp~p

B通道: 30mVrms~1Vrms

3.2.5 A通道低通滤波器:-3dB 带宽约100kHz

3.2.6 A通道衰减:×1或×20

3.3 测量误差

3.3.1 频率或周期测量误差:±时基误差±触发误差±LSD

100ns

其中:LSD=─────×被测频率(或被测周期)

闸门时间

触发误差:当被测信号的信噪比为40dB时,触发误差≤0.3%

  • PPM测量误差:±时基误差±触发误差±LSD

其中:LSD=(100ns/闸门时间)×106ppm

例如:闸门时间=1s时 LSD=0.1ppm

闸门时间=0.1s时 LSD=1ppm

3.3.3 计数误差:±1

3.4闸门时间

固定闸门:10ms、100ms、1s、10s 四档可选;

可调闸门:50ms~95ms 分10档,每档间隔5ms。

3.5 晶体振荡器

标称频率:10MHz

频率稳定度:5×10-6/d

(可根据用户需求,选配更高量级的晶振。

如:1×10-6/d、5×10-7/d、1×10-7/d等)。

3.6 外频标输入

输入频率:10MHz

输入幅度:>1Vp~p 正弦波

3.7 显示

13位0.4吋绿色高亮数码管,三个单位LED指示灯(MHz、kHz、Hz),一个闸门LED指示灯(GATE),一个外频标LED指示灯(EXT)和一个PPM单位指示灯(PPM)。

3.8 电源

电压:交流220V±10%

频率:50Hz±5%

功耗:<8VA

3.9 外形尺寸:230×250×90(mm)

3.10 质量:<1.5kg


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