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CX-118A晶振测试仪的功能及参数有哪些

1.概述
CX-118A 型晶振测试仪使用微处理器技术,实现了智能化测量。本系列仪器采用倒数计数技术实现等精度测量。它测量精度高,灵敏度高,速度快,闸门时间可选;具有频率测量、周期测量、PPM 测量、分档测量、上下限测量、累加计数等功能;中心频率(标称频率)F0、分档值Pr1~Pr8(ppm) 、上限频率FU、下限频率FL 可任意设定并能存储。该机前置电路有低通滤波器、衰减器等。特别适合晶体行业、邮电、通信、广播电视、学校、研究所及工矿企业的生产和科研之用。


2.主要特征

2.1 本机采用倒数计数技术,测量精度高,测量范围宽,真正实现等精度测量,测量速度快,灵敏度高。
2.2 采用单片微机技术进行周期频率测量和智能化管理,使得仪器具有很高的可靠性和优良的性能/价格比。
2.3 整机采用大规模集成电路设计,CPLD 器件的运用,使仪器元器件大为减少,可靠性有了很大的提高,平均无故障工作时间10000h
 · 整机外型美观大方,体积小,重量轻,使用方便。


3.技术参数

3.1 测量范围
· 频率测量:A 通道:1Hz~100MHz;   B 通道:100MHz~1.6GHz(选件)
· 周期测量:A 通道:10ns~1s
· PPM 测量:-9999~9999ppm
· 上、下限测量:可根据用户所设定的上限参数FU、下限参数FL 来测量被测频率是否超出上、下限,超限则报警。
· 分档测量:根据用户所设定的中心频率F0 自动进行分档测量。 分档值:Pr1~Pr8 可在1~999ppm 之间任意设置
 分档档数:以中心频率F0 为中点左右分成16 档
· 累加计数:计数容量:0~109-1 (选件)
 计数方式:键控、门控或外门控可选。
3.2 输入特性
· 输入阻抗: A 通道: 1M"//40pF
B 通道: 50"
3.2.2 输入耦合方式:AC
3.2.3 波形适应性:正弦波、脉冲波
· 输入电压动态范围:
A 通道:30mVrms~250Vp~p          B 通道: 30mVrms~1Vrms
3.2.5 A 通道低通滤波器:-3dB 带宽约100kHz
3.2.6 A 通道衰减:×1 或×20
3.3 测量误差
3.3.1 频率或周期测量误差:±时基误差±触发误差±LSD
100ns
其中:LSD=─────×被测频率(或被测周期)
闸门时间
触发误差:当被测信号的信噪比为40dB 时,触发误差,0.3%
· PPM 测量误差:±时基误差±触发误差±LSD
其中:LSD=(100ns/闸门时间)×106ppm
例如:闸门时间=1s 时 LSD=0.1ppm     闸门时间=0.1s 时 LSD=1ppm
3.3.3 计数误差:±1
3.4 闸门时间
固定闸门:10ms、100ms、1s、10s 四档可选;      可调闸门:50ms~95ms 分10 档,每档间隔5ms。
3.5 晶体振荡器
标称频率:10MHz
频率稳定度:5×10-6/d
(可根据用户需求,选配更高量级的晶振。
如:1×10-6/d、5×10-7/d、1×10-7/d 等)。
3.6 外频标输入
输入频率:10MHz
输入幅度:>1Vp~p 正弦波
3.7 显示
13 位0.4 吋绿色高亮数码管,三个单位LED 指示灯(MHz、kHz、Hz),
一个闸门LED 指示灯(GATE),一个外频标LED 指示灯(EXT)和一个PPM 单位指示灯(PPM)。
3.8 电源
电压:交流220V±10%
频率:50Hz±5%
功耗:<8VA
3.9 外形尺寸:230×250×90(mm)
3.10 质量:<1.5kg
晶振测试盒选配:

晶体测量匹配器: 

 1HZ-20MHZ(标配)

20MHZ-40MHZ

40MHZ-65MHZ

65MHZ-100MHZ


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