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怎样判断32.768KHz晶振的好坏

日期:2024-05-04 07:44
浏览次数:1447
摘要: 怎样判断32.768KHz晶振的好坏 表晶32.768kHz晶振是市面上使用*为广泛的一类晶振。爱普生/EPSON目前提供三类32.768kHz晶振产品以满足客户不同需要,分别是:32.768kHz有源晶振(OSC),32.768kHz无源晶振(X’tal)和内置32.768kHz晶体谐振器的实时时钟模块(RTC)。 有源晶振(OSC)和实时时钟模块(RTC)由于内置了相应的电路,因而不太容易出现不起振的问题。在实际使用时不需要考虑相对复杂的频率匹配问题。 不起振的情况主要出现在无源晶振上,尤其是kHz级别的无源晶振(X’tal),而MHz级别的AT晶振则相对少见。 ...

怎样判断32.768KHz晶振的好坏 

表晶32.768kHz晶振是市面上使用*为广泛的一类晶振。爱普生/EPSON目前提供三类32.768kHz晶振产品以满足客户不同需要,分别是:32.768kHz有源晶振(OSC),32.768kHz无源晶振(X’tal)和内置32.768kHz晶体谐振器的实时时钟模块(RTC)。
有源晶振(OSC)和实时时钟模块(RTC)由于内置了相应的电路,因而不太容易出现不起振的问题。在实际使用时不需要考虑相对复杂的频率匹配问题。
不起振的情况主要出现在无源晶振上,尤其是kHz级别的无源晶振(X’tal),而MHz级别的AT晶振则相对少见。
 

晶振不起振的原因是什么?


答案是:电路结构与晶体单元不匹配。由此导致产生频率不够稳定、停止起振或振荡不稳定等问题。
因此在电路设计时,为了获得稳定的振荡,通常情况下石英晶体单元与振荡电路的匹配十分重要。
解决晶振不起振至少要对以下三个要素:对振荡频率(频率匹配)、振荡裕度(负阻抗)
和激励功率的三项进行评估

32.768KHz晶振的测试方法:

1、绪论及技术参数

产品简介:

一、CX-118A是高性价比的晶振测试系统,采用微处理器技术,实现了智能化测量。本系列仪器采用倒数计数技术实现等精度测量。它测量精度高,灵敏度高,速度快,闸门时间可选;具有频率测量、周期测量、PPM测量、分档测量、上下限测量、累加计数等功能;中心频率(标称频率)F0、分档值Pr1 ~Pr8 (ppm) 、上限频率FU 、下限频率FL可任意设定并能存储。该机前置电路有低通滤波器、衰减器等。特别适合晶体行业、邮电、通信、广播电视、学校、研究所及工矿企业的生产和科研之用。。

具有PPM测量功能,预置频率F0可任意设置。该功能特别适合于晶体振动器生产企业,测试结果显示直观。

主要功能:频率测量,PPM测量,周期测量,数据累计 ,功能设定

二、主要技术指标:

频率测量范围: 0.1Hz — 100MHz

频率测量灵敏度:30mv

PPm测量:3KHz — 100MHz

PPm测量精度:≤1 PPm (1×10-6)

(可扩展0.1PPm , 0.01 PPm)

中心频率:0 Hz — 100 MHz任意设定

误差设置范围设定:± 1 — ± 999 PPm任意设定。

闸门设置:四档 ,0.01s、 0.1s、1s三档固定,

1档闸门1ms — 10s可设,

每1mS为一阶梯任意设定。

周期测量范围:100 ms — 10 s

晶振稳定性:5 ×10-7 / 日

时基频率:OCXO--10MC

 

三、特点:

微机控制,可编程器件开发, 模块化设计

100MHz同步等精度测量方式

SMT贴装生产、工艺,全新小型化结构设计

9位LED显示

PPm提示功能

 

2、产品外观图:

粤公网安备 44030602001690号