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晶振测试仪的主要技术指标
日期：2024-05-07 18:50
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摘要：
CX-118A晶振测试仪/晶体测试仪/PPM测试仪
产品简介：
一、CX-118A是高性价比的晶振测试系统，采用微处理器技术，实现了智能化测量。本系列仪器采用倒数计数技术实现等精度测量。主要功能：频率测量，PPM测量，周期测量，数据累计 ，功能设定
二、主要技术指标：
频率测量范围： 0.1Hz — 100MHz
频率测量灵敏度：30mv
PPm测量：3KHz — 100MHz
PPm测量精度：≤1 PPm （1×10-6）
（可扩展0.1PPm ， 0.01 PPm）
中心频率：0 Hz — 100 MHz任意设定
误差设置范围设定：± 1 — ± 999 PPm任意设定。
闸门设...
CX-118A晶振测试仪/晶体测试仪/PPM测试仪
产品简介：
一、CX-118A是高性价比的晶振测试系统，采用微处理器技术，实现了智能化测量。本系列仪器采用倒数计数技术实现等精度测量。主要功能：频率测量，PPM测量，周期测量，数据累计 ，功能设定
二、主要技术指标：
频率测量范围： 0.1Hz — 100MHz
频率测量灵敏度：30mv
PPm测量：3KHz — 100MHz
PPm测量精度：≤1 PPm （1×10-6）
（可扩展0.1PPm ， 0.01 PPm）
中心频率：0 Hz — 100 MHz任意设定
误差设置范围设定：± 1 — ± 999 PPm任意设定。
闸门设置：四档 ，0.01s、 0.1s、1s三档固定，
1档闸门1ms — 10s可设，
每1mS为一阶梯任意设定。
周期测量范围：100 ms — 10 s
晶振稳定性：5 ×10-7 / 日
