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晶振的频率测试方法

很多人用晶体与一个CMOS非门和两个20~30p电容(有时可能需要在晶体两端并联一个10~20M欧姆电阻)组成基本晶体振荡电路。只要使用频率计测量到频率就可认为晶体可以工作。晶体的参数主要有串联等效电感、电阻和电容,需要专门仪器测量,要求不高的一般应用可以不必考虑。

但是在实际应用中,这种方法实在是没有任何意义,对于一个工厂的品质部门来料检测,或生产线上实际应用,那种方法是行不通的.我司生产的晶振测试仪,是专门针对石英晶振,陶瓷晶振,无源晶振,贴片晶振的一款专业检测仪器.现介绍给大家.

CX-118A晶振测试仪产品简介:

一、CX-118A是高性价比的晶振测试系统,采用微处理器技术,实现了智能化测量。本系列仪器采用倒数计数技术实现等精度测量。它测量精度高,灵敏度高,速度快,闸门时间可选;具有频率测量、周期测量、PPM测量、分档测量、上下限测量、累加计数等功能;中心频率(标称频率)F0、分档值Pr1 Pr8 (ppm) 、上限频率FU 、下限频率FL可任意设定并能存储。该机前置电路有低通滤波器、衰减器等。特别适合晶体行业、邮电、通信、广播电视、学校、研究所及工矿企业的生产和科研之用。。

具有PPM测量功能,预置频率F0可任意设置。该功能特别适合于晶体振动器生产企业,测试结果显示直观。

主要功能:频率测量,PPM测量,周期测量,数据累计 ,功能设定

二、主要技术指标:

频率测量范围: 0.1Hz  100MHz

频率测量灵敏度:30mv

PPm测量:3KHz  100MHz

PPm测量精度:≤1 PPm 1×10-6

(可扩展0.1PPm  0.01 PPm

中心频率:0 Hz  100 MHz任意设定

误差设置范围设定:± 1  ± 999 PPm任意设定。

闸门设置:四档 0.01s 0.1s1s三档固定,

1档闸门1ms  10s可设,

1mS为一阶梯任意设定。

周期测量范围:100 ms  10 s

晶振稳定性:×10-7 / 


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