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晶振测试仪基本介绍

晶振测试仪基本介绍
      晶振测试仪,是通过使用微处理技术,实现了智能化测量的测试仪。该机*大的特点是采用倒数计数技术,测量精度高,灵敏度高,速度快,闸门时间可选;可进行PPM测量、偏差测量、上下限测量等。
主要功能特征
      1晶振测试仪采用倒数计数技术,测量精度高,测量范围广,真正实现精度测量,测量速度快,灵敏度高.
      2.采用单片机技术进行周期频率测量和智能化管理,使仪器具有很高的可靠性和优良的性价比.
      3.整机有用大规模集成电路设计,CPLD器件的运用,使仪器元器件大为减少,可靠性有了大幅度的提高,平均无故障工作时间>10000h.
      4.整机外观美观大方、体积小、重量轻,使用方便。
      5.本机有计数功能,可以自动计算出良品的数量。
晶振测试仪应用
      中心频率F0、偏差频率Fr、上下频率Fu、下限频率FL可任意设定并能进行存储,设有计数功能,在分选好坏时特别好用,可自动计算出良品的数量。特别适合手机维修行业、晶体行业、邮电、通信、广播电视、学校、研究所及工矿企业的科研及生产之用.


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